科研成果
一种直接X射线探测结构、探测器及探测结构制作方法
| 专利名称: |
一种直接X射线探测结构、探测器及探测结构制作方法
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| 英文名称: |
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| 专利类别: |
发明
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| 申请号: |
CN201710972261.3
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| 申请日期: |
2017-10-18
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| 授权日期: |
2019-06-14
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| 专利号: |
ZL201710972261.3
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| 第一发明人: |
戴庆
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| 其它发明人: |
李振军; 白冰; 李驰; 陈科; 周圣涵
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| 国外申请日期: |
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| 国外申请方式: |
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| 专利授权日期: |
2019-06-14
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| 缴费情况: |
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| 实施情况: |
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| 专利证书号: |
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| 专利摘要: |
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| 其它备注: |
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