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科研成果

一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法

专利名称:

一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法

英文名称:

A new method to measure the characteristic capacitance of the conductive tips used in scanning probe microscope

专利类别:

发明专利

申请号:

200710065240.x

申请日期:

2007-04-06

授权日期:

专利号:

第一发明人:

戚桂村

其它发明人:

杨延莲严昊王琛

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: