科研成果
多孔氧化铝薄膜的阻挡层厚度的检测方法
| 专利名称: |
多孔氧化铝薄膜的阻挡层厚度的检测方法
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| 英文名称: |
多孔氧化铝薄膜的阻挡层厚度的检测方法
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| 专利类别: |
发明
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| 申请号: |
201010280022.X
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| 申请日期: |
2010-9-10
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| 授权日期: |
2014-4-16
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| 专利号: |
ZL201010280022.X
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| 第一发明人: |
智林杰
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| 其它发明人: |
贾玉莹、罗彬、梁明会
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| 国外申请日期: |
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| 国外申请方式: |
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| 专利授权日期: |
2014-4-16
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| 缴费情况: |
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| 实施情况: |
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| 专利证书号: |
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| 专利摘要: |
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| 其它备注: |
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当前位置：