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    科研成果

    一种针对高分子纳米材料的透射电镜简易检测方法

    专利名称: 一种针对高分子纳米材料的透射电镜简易检测方法
    英文名称:
    专利类别: 发明授权
    申请号: CN201510294051.4
    申请日期: 2015-06-01
    授权日期: 2018-12-21
    专利号: ZL201510294051.4
    第一发明人: 梁兴杰
    其它发明人: 车晶; 翁郁华; 郭宏博; 薛向东; 甘雅玲
    国外申请日期:
    国外申请方式:
    专利授权日期: 2018-12-21
    缴费情况:
    实施情况:
    专利证书号:
    专利摘要:
    其它备注:
       

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