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科研成果

一种纳米线吸收谱的测量方法及系统

专利名称:

一种纳米线吸收谱的测量方法及系统

英文名称:

专利类别:

发明

申请号:

CN201710873446.9

申请日期:

2017-09-25

授权日期:

2020-09-29

专利号:

ZL201710873446.9

第一发明人:

杜文娜

其它发明人:

武志勇; 时佳; 陈杰; 张帅; 米阳; 刘新风

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2020-09-29

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: