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科研成果

X射线成像装置及X射线成像方法

专利名称: X射线成像装置及X射线成像方法
英文名称:
专利类别: 发明
申请号: CN201811417134.8
申请日期: 2018-11-26 00:00:00
授权日期: 2022-05-17 00:00:00
专利号: ZL201811417134.8
第一发明人: 戴庆
其它发明人: 李振军; 李驰; 白冰
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期: 2022-05-17 00:00:00
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:
   

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