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科研成果
一种微区测量纳米材料光学增益系数的测量方法及测量系统装置
专利名称:
一种微区测量纳米材料光学增益系数的测量方法及测量系统装置
英文名称:
专利类别:
发明
申请号:
CN202110164408.2
申请日期:
2021-02-05 00:00:00
授权日期:
2023-07-14 00:00:00
专利号:
ZL202110164408.2
第一发明人:
刘新风
其它发明人:
杜文娜; 吴宪欣; 张帅
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
2023-07-14 00:00:00
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:
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